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PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之溼氣能力╃▩☁││，待測產品被置於嚴苛之溫度₪✘、溼度及壓力下測試╃▩☁││，溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體.