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  • PCT高壓加速壽命試驗
    PCT高壓加速壽命試驗

    PCT高壓加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體₪╃▩▩,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路₪╃▩▩,或封裝體引腳間因汙染造成短路等·↟◕。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體·↟◕。

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  • 飽和型加速壽命試驗機
    飽和型加速壽命試驗機

    飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體₪╃▩▩,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路₪╃▩▩,或封裝體引腳間因汙染造成短路等·↟◕。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體·↟◕。

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  • PCT加速老化試驗機
    PCT加速老化試驗機

    PCT加速老化試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體₪╃▩▩,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路₪╃▩▩,或封裝體引腳間因汙染造成短路等·↟◕。

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  • PCT高壓壽命試驗機
    PCT高壓壽命試驗機

    PCT高壓壽命試驗機主要作用是用來測試半導體封裝之溼氣能力₪╃▩▩,待測產品被置於嚴苛之溫度•╃◕、溼度及壓力下測試₪╃▩▩,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體.

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