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    飽和型加速壽命試驗機

    飽和型加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁✘│✘,待測產品被置於嚴苛之溫度▩•、溼度及壓力下測試☁✘│✘,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體☁✘│✘,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路☁✘│✘,或封裝體引腳間因汙染造成短路等✘▩₪。 PCTZ主要是測試半導體封裝之溼氣能力☁✘│✘,待測產品被置於嚴苛之溫度▩•、溼度及壓力下測試☁✘│✘,溼氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體✘▩₪。

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